1.1 JEOL场发射扫描电子显微镜

仪器名称：JEOL场发射扫描电子显微镜（含能谱仪、波谱仪、背散射电子衍射仪）

主要参数：二次电子像分辨率1.2nm（30kV），最大放大倍数300,000×

主要功能：微区形貌观察、材料断口形貌及失效分析、微区成分定性/定量分析

1.2 Zeiss场发射扫描电子显微镜

仪器名称：Zeiss场发射扫描电子显微镜（含能谱仪、Feature夹杂物自动统计软件）

主要参数：二次电子像分辨率1.3nm（20kV），最大放大倍数1,000,000×

主要功能：夹杂物自动统计、微区形貌观察、材料断口形貌及失效分析、微区成分定性/定量分析

1.3 全自动夹杂物分析系统

仪器型号：Explorer 4 （FEI）

主要参数：CeB6灯丝，最小夹杂物分析尺寸500nm

主要功能：可以进行样品中500nm以上的夹杂物、颗粒等全自动统计分析。

1.4 EVO18钨灯丝扫描电子显微镜

仪器名称：EVO18钨灯丝扫描电子显微镜（含能谱仪）

主要参数：二次电子像分辨率3.0nm（30kV），放大倍数~100,000×

主要功能：微区形貌观察、材料断口形貌及失效分析、微区成分定性/定量分析

1.5 透射电子显微镜

仪器名称：场发射透射电子显微镜（含能谱仪）

主要参数：点分辨率0.19nm（200kV），线分辨率0.102nm（200kV），最大放大倍数50～1,500,000×

主要功能：显微组织形貌及分布、材料中缺陷结构、相鉴定、晶粒取向、微区成分定性/定量分析

1.6 电子探针

仪器名称：扫描电子探针显微镜（含能谱仪）

主要参数：分析元素范围Be4 - U92，二次电子像分辨率5nm

主要功能：微区成分定性/定量分析、元素化学状态分析、表面显微结构观察

1.7 X射线衍射仪

仪器名称：X射线衍射仪

主要参数：最大输出功率18kW，2q角测量范围0.5°～145°，测试温度范围RT～1500℃

主要功能：物相定性/半定量分析、晶格常数测定、晶粒尺寸测定、织构及晶体取向分析、残余应力分析、高温衍射实验

1.8 蔡司金相显微镜

仪器名称：蔡司金相显微镜

主要参数：标准放大倍数50～1000×，CCD摄像头1200万像素

主要功能：组织观察、晶粒度评定、非金属夹杂物分析、多相分析

1.9 高温激光扫描共聚焦显微镜

仪器名称：高温激光扫描共聚焦显微镜

主要参数：分辨率1.27μm (TOS 5× NA: 0.16), 1.88μm (TOS 10× NA: 0.23),

0.58μm (TOS 20× NA: 0.35), 0.51μm (TOS 5× NA: 0.51)

温度范围50 ~ 1700℃

主要功能：样品加热原位观察、3D表面测量

1.10 真色彩扫描共聚焦显微镜

仪器名称：真色彩扫描共聚焦显微镜

主要参数：分辨率0.18μm (100×, NA: 0.95, 蓝色单色图像)

主要功能：表面粗糙度分析、组织观察、表面形貌分析