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金相分析及结构表征
2020/01/03浏览(314

1.1 JEOL场发射扫描电子显微镜

 

 

仪器名称:JEOL场发射扫描电子显微镜(含能谱仪、波谱仪、背散射电子衍射仪)

主要参数:二次电子像分辨率1.2nm(30kV),最大放大倍数300,000×

主要功能:微区形貌观察、材料断口形貌及失效分析、微区成分定性/定量分析

 

1.2 Zeiss场发射扫描电子显微镜

 

 

仪器名称:Zeiss场发射扫描电子显微镜(含能谱仪、Feature夹杂物自动统计软件)

主要参数:二次电子像分辨率1.3nm(20kV),最大放大倍数1,000,000×

主要功能:夹杂物自动统计、微区形貌观察、材料断口形貌及失效分析、微区成分定性/定量分析

 

1.3 全自动夹杂物分析系统

 

 

仪器型号:Explorer 4 (FEI)

主要参数:CeB6灯丝,最小夹杂物分析尺寸500nm

主要功能:可以进行样品中500nm以上的夹杂物、颗粒等全自动统计分析。

 

1.4 EVO18钨灯丝扫描电子显微镜

 

 

仪器名称:EVO18钨灯丝扫描电子显微镜(含能谱仪)

主要参数:二次电子像分辨率3.0nm(30kV),放大倍数~100,000×

主要功能:微区形貌观察、材料断口形貌及失效分析、微区成分定性/定量分析

 

1.5 透射电子显微镜

 

 

仪器名称:场发射透射电子显微镜(含能谱仪)

主要参数:点分辨率0.19nm(200kV),线分辨率0.102nm(200kV),最大放大倍数50~1,500,000×

主要功能:显微组织形貌及分布、材料中缺陷结构、相鉴定、晶粒取向、微区成分定性/定量分析

 

1.6 电子探针

 

 

仪器名称:扫描电子探针显微镜(含能谱仪)

主要参数:分析元素范围Be4 - U92,二次电子像分辨率5nm

主要功能:微区成分定性/定量分析、元素化学状态分析、表面显微结构观察

 

1.7 X射线衍射仪

 

 

仪器名称:X射线衍射仪

主要参数:最大输出功率18kW,2q角测量范围0.5°~145°,测试温度范围RT~1500℃

主要功能:物相定性/半定量分析、晶格常数测定、晶粒尺寸测定、织构及晶体取向分析、残余应力分析、高温衍射实验

 

1.8 蔡司金相显微镜

 

 

仪器名称:蔡司金相显微镜

主要参数:标准放大倍数50~1000×,CCD摄像头1200万像素

主要功能:组织观察、晶粒度评定、非金属夹杂物分析、多相分析

 

1.9 高温激光扫描共聚焦显微镜

 

 

仪器名称:高温激光扫描共聚焦显微镜

主要参数:分辨率1.27μm (TOS 5× NA: 0.16), 1.88μm (TOS 10× NA: 0.23),

0.58μm (TOS 20× NA: 0.35), 0.51μm (TOS 5× NA: 0.51)

温度范围50 ~ 1700℃

主要功能:样品加热原位观察、3D表面测量

 

1.10 真色彩扫描共聚焦显微镜

 

 

仪器名称:真色彩扫描共聚焦显微镜

主要参数:分辨率0.18μm (100×, NA: 0.95, 蓝色单色图像)

主要功能:表面粗糙度分析、组织观察、表面形貌分析

 
 
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